| 作者：佚名 来源：网络 点击数： 更新时间：2009/10/20 8:15:17 |
近日，厦门检验检疫科学研究院技术骨干赖莺课题组一项科技成果通过专家鉴定。该课题组通过技术攻关，实现了对钨精矿中钨成份以及有害杂质元素成份分析的新突破，分析效率传统方法提升了数10倍，分析成本降低了六分之一。
近年来，随着我国经济快速发展，钨精矿的消耗量急剧增加。据统计，去年我国进口钨精矿10131吨，同比增长9％。传统的钨精矿化学分析方法操作步骤烦琐，检测周期长，各种方法相对独立，只能进行单一元素的分析，而无法实现多元素同时分析，严重影响货物通关、贸易结算及生产进度安排。
由厦门检科院赖莺领衔申报的课题《钨精矿中钨和有害杂质元素的同时、快速检测方法研究》，于2007年获准立项，顺利建立了玻璃熔片波长色散X射线荧光光谱法。该方法可一次性测定钨精矿中WO3、Mn、Fe、CaO等14个组分。方法检出限、精密度和准确度均能满足日常分析需要，每个样品检测周期均在半小时以内。
据悉，X射线荧光光谱仪广泛应用于各种矿产品的分析，但很少有钨精矿中主次量元素同时测定的应用报道，主要是因为钨精矿样品熔融温度高、基体效应复杂、标准样品不易获得等原因引起。赖莺小组采用四硼酸钠和四硼酸锂混合熔剂熔融制样，一举解决了这一难题。只要在1150摄氏度下熔融5分钟即可制得均匀、稳定、透明的试料片，以高纯物质人工配制校准标样，解决了标准样品不易获得的问题。
与此同时，新课题还采用可变理论α影响系数法校正基体效应，有效解决了实际样品和校准样品基体不匹配所带来的基体效应干扰，校正效果良好。以公共背景法进行背景校正，有效消除元素的背景干扰，降低方法的检出限，同时大大节省了背景的测量时间，提高了分析效率。 |
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